A63.7081 Schottky फील्ड एमिशन गन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप प्रो FEG SEM, 15x ~ 800000x
उत्पाद वर्णन
| A63.7081 Schottky फील्ड एमिशन गन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप प्रो FEG SEM | ||
| संकल्प | 1एनएम @ 30 केवी (एसई); 3एनएम @ 1 केवी (एसई); २.५एनएम@३०केवी (बीएसई) | |
| बढ़ाई | 15x~800000x | |
| इलेक्ट्रॉन गन | शोट्की एमिशन इलेक्ट्रॉन गन | |
| इलेक्ट्रॉन बीम करंट | 10pA~0.3μA | |
| त्वरित वोटेज | 0~30KV | |
| वैक्यूम प्रणाली | 2 आयन पंप, टर्बो आण्विक पंप, यांत्रिक पंप | |
| डिटेक्टर | एसई: हाई वैक्यूम सेकेंडरी इलेक्ट्रॉन डिटेक्टर (डिटेक्टर प्रोटेक्शन के साथ) | |
| बीएसई: सेमीकंडक्टर फोर सेगमेंटेशन बैक स्कैटरिंग डिटेक्टर | ||
| सीसीडी | ||
| नमूना चरण | फाइव एक्सिस यूसेंट्रिक मोटराइज्ड स्टेज | |
| यात्रा रेंज | X | 0 ~ 150 मिमी |
| Y | 0 ~ 150 मिमी | |
| Z | 0 ~ 60 मिमी | |
| R | 360 º | |
| T | -5º~75º | |
| अधिकतम नमूना व्यास | 320 मिमी | |
| परिवर्तन | ईबीएल; एसटीएम; एएफएम; हीटिंग स्टेज; क्रायो स्टेज; तन्यता स्टेज; माइक्रो-नैनो मैनिपुलेटर; एसईएम + कोटिंग मशीन; एसईएम + लेजर आदि। | |
| सामान | एक्स-रे डिटेक्टर (ईडीएस), ईबीएसडी, सीएल, डब्ल्यूडीएस, कोटिंग मशीन आदि। | |
लाभ और मामले
| स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (सेम) धातुओं, चीनी मिट्टी की चीज़ें, अर्धचालक, खनिज, जीव विज्ञान, पॉलिमर, कंपोजिट और नैनो-स्केल एक-आयामी, दो-आयामी और तीन-आयामी सामग्री (द्वितीयक इलेक्ट्रॉन छवि) की सतह स्थलाकृति के अवलोकन के लिए उपयुक्त है। बैकस्कैटर इलेक्ट्रॉन छवि)। इसका उपयोग माइक्रोरेगियन के बिंदु, रेखा और सतह के घटकों का विश्लेषण करने के लिए किया जा सकता है। इसका व्यापक रूप से पेट्रोलियम, भूविज्ञान, खनिज क्षेत्र, इलेक्ट्रॉनिक्स, अर्धचालक क्षेत्र, चिकित्सा, जीव विज्ञान क्षेत्र, रासायनिक उद्योग, बहुलक सामग्री क्षेत्र में उपयोग किया जाता है। सार्वजनिक सुरक्षा, कृषि, वानिकी और अन्य क्षेत्रों की आपराधिक जांच। |
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